出展のご案内「第28回 インターフェックス Week 東京」
拝啓
新緑の候、貴社ますますご盛栄のこととお喜び申し上げます。
このたびフクダは「第28回 インターフェックス Week 東京」への出展に際し、容器完全性試験(CCIT)に準ずる全数検査装置と抜き取り検査機を展示をいたします。
ご多忙中のところ恐れ入りますが、この機会に是非ともご来場いただきたくご案内申し上げます。
敬具
会 期：2026年5月20日 (水) ～ 22日 (金) 10:00 ～ 17:00
会 場：幕張メッセ ８ホール ブースNo. ４１-３６
■出展製品
【包装容器 全数ピンホール検査装置 MSQ-2003 series】
ピロー包装等を対象としたパッケージの完全性を検査する全数検査装置です。パッケージに生じるピンホールや溶着剥がれといった包装不良を検知します。
◆処理能力 60 個/分、検出能力 直径50 マイクロメートルのピンホールを検知可能なインライン装置
◆定量的で、再現性のある測定が可能
◆対象はピロー包装の容器等
【包装容器 エアリークテスト装置 MSP series】
医薬品梱包の包装不良を検出するための卓上型完全性試験（CCIT）装置です。パッケージの完全性を検査することで製品本体の品質保持が可能となり、水没による廃棄の無駄が無くなります。
◆GMP、DI、バリデーション対応
◆バリア性の確認（酸素、水蒸気等）
◆「最大許容漏れ限度」の設定
◆定量的・再現性のある測定結果
◆液漏れ計測が可能